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由主理人 Ann Chen 创立的新锐设计师品牌 neum 正式发表全新系列「A Study of Ordered Traces」,本季灵感源自 Lee Miller 的摄影作品,在她镜头下的战争,不仅记录了冲突,也留下了秩序、残留与重生的影子。 neum 试着从那些排列整齐却载满重量的线条与空间中,找到一种失序中重新编排现实的方式。比如条纹与围篱、工装与口袋,本是象征规训、劳动与区隔的视觉语言,在这一系列中被拆解、重构、重新缝合,将制服的线条化为身体的自由延展,将围篱的格线转译为保护与内聚。 Ann 认为当这些符号被剪裁、重组,穿在身上,它们可以是自由的缝隙。服装也不再只是穿在身上的结构,更是穿越时间的叙事。 「A Study of Ordered Traces」系列现已上架官网及品牌工作室展出,欢迎在线选购或预约试穿体验。此外 neum 也将于 8 月 16 日、17 日举办新品展售会,开放试穿与购买,有兴趣的读者不妨多加留意。 neum “A Study of Ordered Traces” 展售会 日期:8/16、17 时间:12:00–19:00 地点:台湾省台北市松山区复兴北路 233 号 |
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